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      X荧光硅铝分析仪

      X荧光硅铝分析仪


       
      KL3500型X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品,检测所生产的二次特征X射线,即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中,主要测量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快(1分钟),因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O3变化情况,便于及时调整原料的配比,为生产高合格率熟料打下坚实的基础。 
      相关参数
      型号:KL3500型
      颜色:灰
      重量:13.5kg
      详细介绍
      主要特点:
      1、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。
      2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。
      3、分析时间短,1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。
      4、仪器检测时不破坏样品,样品可重复使用。
      5、不用任何化学试剂、无三废排放,不含放射源、低耗电,符合环保节能要求。
      6、数据存储量大,含量结果、仪器自检数据都可查询,避免了打印耗材。
      7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。
      技术指标
      1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%~100% ; 
      2、分析精度:标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%;
      3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,
        例如生料中SiO2:10%~25%,通过标定工作曲线选定;
      4、分析时间: n*60秒(n为1~5自然数)。
      5、使用条件: 供电AC200V~240V;环境温度0~40℃;相对湿度<85%(30℃);
      6、整机功耗: <30W  
      7、整机尺寸:468mm*368mm*136mm  
      8、整机重量:13.5Kg
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